平面度测量装置
授权
摘要
本公开提供的平面度测量装置通过在顶板上设置测量组件，并将待测物体放置在测量组件下方，并将待测平面度的一侧朝向测量组件，通过测量组件的扫描单元对待测物体进行扫描，并计算分析出待测物体上待测平面度的一侧的平面度，由此提高了物体平面度检测的效率，降低了平面度测量的成本，使得物体平面度的测量更加方便、快捷。
基本信息
专利标题 ：
平面度测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123031280.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-03
授权号 ：
CN216645265U
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
王旭辉
申请人 ：
西安闻泰信息技术有限公司
申请人地址 ：
陕西省西安市沣东新城沣东旺城1号楼
代理机构 ：
北京开阳星知识产权代理有限公司
代理人 ：
李雪松
优先权 ：
CN202123031280.7
主分类号 ：
G01B11/30
IPC分类号 ：
G01B11/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/275
••用于检测轮子准直度
G01B11/30
用于计量表面的粗糙度和不规则性
法律状态
2022-05-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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