一种激光光斑直径检测系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种激光光斑直径检测系统，包括光电二极管阵列1、电压比较器2和单片机3，检测系统工作时，激光光斑对准照射在光电二极管阵列1上，单片机3驱动光电二极管阵列1工作，光电二极管阵列1按像素单元顺序输出各像素单元光电转换电压信号，电压信号经过电压比较器2与参考电压源VCOMP作比较后，电压信号被转换为数字方波信号，通过数字方波信号的下降沿触发单片机3中断，从而实现对激光光斑覆盖位置像素单元的计数，像素单元的数量用于计算激光光斑直径。检测系统的电路设计简单，技术指标能够满足激光产品对于激光光斑直径的检测需求，且检测系统成本大大降低，值得推广使用。
基本信息
专利标题 ：
一种激光光斑直径检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021545514.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-30
授权号 ：
CN212539076U
授权日 ：
2021-02-12
发明人 ：
石城张石李亚锋
申请人 ：
深圳煜炜光学科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区桃源街道长源社区学苑大道1001号南山智园C1栋901
代理机构 ：
深圳市六加知识产权代理有限公司
代理人 ：
崔肖肖
优先权 ：
CN202021545514.2
主分类号 ：
G01B11/08
IPC分类号 ：
G01B11/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/08
用于计量直径
法律状态
2021-02-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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