基于FPGA的嵌入式模块测试仪
授权
摘要
本实用新型提供一种基于FPGA的嵌入式模块测试仪，其包括：FPGA处理器；触控显示屏，其与所述FPGA处理器之间通过串行接口连接；业务接口，其与所述FPGA处理器和待测试嵌入式模块通信连接；和电源，其为所述FPGA处理器、所述触控显示屏和所述业务接口提供电源。本实用新型提供的基于FPGA的嵌入式模块测试仪，能够解决嵌入式模块在研发、生产时的调试、测试以及后期用户使用中的调试测试问题，且使用方便，配套外围设施少。可以通过界面设置，调用FPGA不同接口逻辑模块，以实现通用业务接口不同的接口时序和接口协议，匹配多种被测设备接口协议，大大方便测试测量。
基本信息
专利标题 ：
基于FPGA的嵌入式模块测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021589746.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-04
授权号 ：
CN213041931U
授权日 ：
2021-04-23
发明人 ：
王秋生李云飞古晓东吉甫强
申请人 ：
山西银河电子设备厂
申请人地址 ：
山西省太原市小店区平阳路130号
代理机构 ：
太原万惟新致知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
黄海燕
优先权 ：
CN202021589746.8
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-04-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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