万向测量仪用扫描测头
授权
摘要
本实用新型涉及测量领域，具体涉及一种万向测量仪用扫描测头，包括底座、安装于所述底座的X轴运动机构、安装于所述X轴运动机构的支架、安装于所述支架上的Y轴运动机构、安装于所述Y轴运动机构的Z轴运动机构及安装于所述Z轴运动机构的扫描机构，所述扫描机构包括安装于所述Z轴运动机构的旋转盘、安装于所述旋转盘的转接座、安装于所述转接座的转轴、安装于所述转轴的扫描头，所述转接座通过所述旋转盘可转动的安装于所述Z轴运动机构，所述扫描头通过所述转轴可转动的安装于所述转接座；通过设置的旋转盘和转轴来进一步调整扫描角度，以此来提高测量结果的精确度。
基本信息
专利标题 ：
万向测量仪用扫描测头
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021610673.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-05
授权号 ：
CN212585747U
授权日 ：
2021-02-23
发明人 ：
周满意
申请人 ：
东莞市德鑫光学仪器有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市道滘镇昌平万道路2号华科城创新岛产业孵化园10栋1、2、3号房
代理机构 ：
东莞恒成知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
邓燕
优先权 ：
CN202021610673.6
主分类号 ：
G01D21/00
IPC分类号 ：
G01D21/00 G01D11/00 G01D11/30
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D21/00
未列入其他类目的测量或测试
法律状态
2021-02-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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