一种基于弱磁近场探测技术的密拍摄像装置检测设备
授权
摘要
本实用新型提供一种基于弱磁近场探测技术的密拍摄像装置检测设备。该设备主要包括弱磁近场探头、信号放大模块、带通滤波模块、信号分析模块及显示模块。用前置和参考弱磁近场探头探测可疑区域或空间内的弱磁信号，将探测到的信号进行信号放大和带通滤波，再通过模数转换和时频域变换处理得到频率和幅值，综合两个近场探头探测得到的频率和幅值数据进行去噪处理，最后结合摄像装置存在的同步信号特征分析判定是否检测到密拍摄像装置，以及根据移动探测时目标信号的强弱或幅值变化确定位置。本实用新型的探测范围基本涵盖所有类型的密拍摄像装置，探测不受角度或方向的限制，具备去噪和多重确认机制，具有更低的漏检、误检率，使用便捷。
基本信息
专利标题 ：
一种基于弱磁近场探测技术的密拍摄像装置检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021638764.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-10
授权号 ：
CN213365052U
授权日 ：
2021-06-04
发明人 ：
黄晓笑成心玥李雅静
申请人 ：
杭州艺兴科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市余杭区仓前街道海创科技中心2幢802室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021638764.0
主分类号 ：
G01V3/08
IPC分类号 ：
G01V3/08 G01V3/38
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V3/00
电或磁的勘探或探测；；地磁场特性的测量；例如，磁偏角或磁偏差
G01V3/08
通过被测目标或地质结构或通过探测装置产生或改变磁场或电场进行操作的
法律状态
2021-06-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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