一种荧光探测结构架
授权
摘要

本实用新型提供了一种荧光探测结构架,结构架的传动机构为柔性连接,避免了由于刚性传动带来元器件与待测岩心样本之间发生硬碰撞的可能,很好的保护了仪器和样本。当待测岩心样本表面高低倾斜时,本结构可以通过轴承使荧光探测模组自转,很好的贴合在待测岩心样本表面上,准确完成探测。大大减少了由待测岩心样本表面高低倾斜带来的无效探测,显著提高了仪器探测的准确率和工作效率。如果由于人为操作或上位机控制原因,导致工作过程中荧光探测结构架与待测岩心样本之间发生了硬碰撞,可形变连接件发生形变,偏移触发挡条挤压偏移探测器使其响应,发送信号给上位机处理。

基本信息
专利标题 :
一种荧光探测结构架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021655693.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-10
授权号 :
CN212275559U
授权日 :
2021-01-01
发明人 :
杨彬修连存殷靓郑志忠陈春霞高扬董金鑫
申请人 :
江苏三深光谱感知技术研究院有限公司
申请人地址 :
江苏省南京市江宁区麒麟高新技术产业开发区天骄路100号9号楼
代理机构 :
江苏圣典律师事务所
代理人 :
于瀚文
优先权 :
CN202021655693.5
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01  G01N21/64  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2021-01-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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