一种水下原位荧光成像探测仪
公开
摘要
本发明提供一种水下原位荧光成像探测仪,由耐压外壳、扫描光学探测系统和供电与数据传输系统组成;耐压外壳上设有的两个通孔内分别安装有柱面透镜和收集透镜;扫描光学探测系统由激发光源组件、扫描组件和成像探测组件组成;激发光源组件由激发光源、激发滤光片、准直透镜和柱面透镜组成;激发光源和柱面透镜分别放置在准直透镜两个焦点上,使激发光源组件产生线型激发光束;扫描组件控制激发光源组件沿固定轴线旋转,进行扇形扫描,使激发光源组件产生的线型激发光束扫描为面;成像探测组件由收集透镜、快门、发射滤光片和检测CMOS组成,快门放置在收集透镜的焦点处,检测CMOS与快门之间设有距离,使入射的荧光信号尽可能多的覆盖检测CMOS的感光芯片。
基本信息
专利标题 :
一种水下原位荧光成像探测仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114609099A
申请号 :
CN202011444789.1
公开(公告)日 :
2022-06-10
申请日 :
2020-12-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
关亚风耿旭辉卢世豪王传亮
申请人 :
中国科学院大连化学物理研究所
申请人地址 :
辽宁省大连市沙河口区中山路457号
代理机构 :
大连东方专利代理有限责任公司
代理人 :
徐华燊
优先权 :
CN202011444789.1
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2022-06-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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