多色荧光显微成像系统
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种多色荧光显微成像系统,包括物镜、二向色镜、会聚镜、消色差中继镜组、筒镜、分束器和探测器;其中,激发光经会聚镜、二向色镜聚焦于被测物激发出荧光,荧光通过物镜收集,再经消色差中继镜组与筒镜后会聚进入分束器进行分束并分别成像在探测器上。本发明在不增加探测器、物镜等成像系统所需硬件的基础上,以较为简单的方式组成成像系统,从而提高单次采集或单位时间内的信息维度,与此同时这种成像方式还具有极高的时间分辨率。

基本信息
专利标题 :
多色荧光显微成像系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114441495A
申请号 :
CN202210131088.5
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2022-02-13
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
吴一辉高明王越
申请人 :
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址 :
吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
代理机构 :
长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
高一明
优先权 :
CN202210131088.5
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/64
申请日 : 20220213
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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