用于半导体性能检测的测试台
授权
摘要
本实用新型公开了用于半导体性能检测的测试台，包括检测机构、支撑机构，所述检测机构包括工作台、工具盒、检测面板，所述工作台内侧安装有所述工具盒，所述工作台上端面安装有所述检测面板，所述检测面板后部设置有静电除尘网，所述检测面板一侧安装有显示屏，所述检测面板上方设置有支架，所述支架内侧安装有温度扫描仪。本实用新型结构简单，设计合理，生产成本低，可以同时检测若干个半导体，极大的提高了工作效率，同时方便调节装置的高度，实用性高。
基本信息
专利标题 ：
用于半导体性能检测的测试台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021695326.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-14
授权号 ：
CN212625491U
授权日 ：
2021-02-26
发明人 ：
陈长贵
申请人 ：
泰州海天电子科技股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省泰州市高港区科技创业园内泰州海天电子科技股份有限公司
代理机构 ：
南京源古知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
马晓辉
优先权 ：
CN202021695326.8
主分类号 ：
H01L21/66
IPC分类号 ：
H01L21/66 H01L21/687 G01K13/00
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/66
在制造或处理过程中的测试或测量
法律状态
2021-02-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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