基于同轴光实现轮廓光测量水平放置零件厚度的结构
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于同轴光实现轮廓光测量水平放置零件厚度的结构，包括工业相机、大视野远心镜头、同轴光源、零件、零件支架、45度反光镜和工作台，所述工作台的上方固定设置用于放置零件的零件支架，所述零件放置在零件支架上，所述零件支架的上方设置工作方向朝向零件的同轴光源，同轴光源的上方设置大视野远心镜头和与大视野远心镜头相配合的工业相机，所述工业相机包含镜头端，所述工业相机的镜头端通过光同轴光源朝向零件。本实用新型相对与一般影像测量方式，本结构减少了多次装夹的过程，单此装夹即可测量零件的长度、宽度、厚度，提高了工作效率，同时减低了生产成本。
基本信息
专利标题 ：
基于同轴光实现轮廓光测量水平放置零件厚度的结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021716863.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-17
授权号 ：
CN213021445U
授权日 ：
2021-04-20
发明人 ：
董凤勇罗杰佘刚
申请人 ：
思瑞测量技术（深圳）有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区福永街道和平社区和泰工业区（和丰工业园）厂房6栋第一、二、四层
代理机构 ：
深圳市凯博企服专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
李绍飞
优先权 ：
CN202021716863.6
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02 G01B11/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2021-04-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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