一种自动测试验证装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种自动测试验证装置，包括上位机、MCU模块、FPGA模块和测试模块；MCU模块的第一输入端与上位机的输出端连接；FPGA模块的输入端与MCU模块的第一输出端连接；测试模块内部放置待测芯片，且测试模块的第一输入端与FPGA模块的输出端连接，第二输入端与MCU模块的第二输出端连接，输出端与MCU模块的第二输入端连接；MCU模块的第三输出端与上位机的输入端连接。此实用新型解决了传统测试技术存在测试效率低，操作困难的问题，通过设置上位机自动编码测试脚本，实现了自动化的高效测试，保证了测试的产品质量和开发进度，方便了试验可操作性。
基本信息
专利标题 ：
一种自动测试验证装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021726194.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-18
授权号 ：
CN213042666U
授权日 ：
2021-04-23
发明人 ：
袁家龙
申请人 ：
聚辰半导体股份有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区张江高科技园区松涛路647弄12号
代理机构 ：
上海元好知识产权代理有限公司
代理人 ：
张妍
优先权 ：
CN202021726194.0
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2021-04-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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