涂层厚度测量仪用探头收纳结构

授权

摘要

本实用新型提供涂层厚度测量仪用探头收纳结构，其特征在于包括收纳框、第一弹簧，本实用新型通过增加为金属材质的收纳框，使得探头能够在不使用时置于该收纳框中，且不与外界接触，从而得到极为良好的防护效果；通过增加第一弹簧，使得工作人员在使用完涂层测厚仪时，能够通过第一弹簧恢复弹性形变的力将收纳框进行复位处理，即，使得探头能够在使用结束后自动收纳至收纳框中，从而即使发生了工作人员忘记将涂层测厚仪进行收纳的现象时，也不会导致其探头受到外界硬物碰撞而出现划伤、损坏的现象，进而不会影响到该涂层测厚仪后续的使用效率，且能够在极大程度上延长该涂层测厚仪的使用寿命。

基本信息

专利标题：

涂层厚度测量仪用探头收纳结构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021736489.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-08-19

授权号：

CN212931376U

授权日：

2021-04-09

发明人：

张建英

申请人：

天津城通工程管理有限公司

申请人地址：

天津市东丽区无瑕街道十号桥招商大厦A区2280-152

代理机构：

天津英扬昊睿专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

钱雪岷

优先权：

CN202021736489.6

主分类号：

G01B21/08

IPC分类号：

G01B21/08