一种BGA元器件检修用透视设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种BGA元器件检修用透视设备,包括底座,所述底座一端设置有射线管,所述底座的上方设置有滑竿,所述滑竿上设置有透视装置,所述滑竿上在位于透视装置与射线管之间设置有滑块,所述滑块上安装有收纳管,所述收纳管的上方设置有放置平台,所述收纳管的下方设置有紧固垫,所述透视装置的下端设置有连接块,所述透视装置通过其下端设置的连接块设置在滑竿上。本实用新型所述的一种BGA元器件检修用透视设备,属于电子设备领域,通过设置可升降的放置平台,可以便于BGA元器件的放置检修;通过设置滑块,可以便于放置平台的移动;通过设置收纳管以及紧固垫,可以便于将放置平台固定,从而最终提高了BGA元器件检修的效率。
基本信息
专利标题 :
一种BGA元器件检修用透视设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021761219.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-20
授权号 :
CN213456731U
授权日 :
2021-06-15
发明人 :
罗超沈久安苏毅
申请人 :
深圳市添富泰电子有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市光明新区公明街道马山头社区第四工业区64栋F
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021761219.0
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2021-06-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载