一种便于使用的BGA元器件透视设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种便于使用的BGA元器件透视设备，包括设备外壳，所述设备外壳的下表面靠近两侧位置均固定安装有支撑脚，所述支撑脚的内部开设有吊装插槽，所述设备外壳的前表面靠近一侧位置嵌设有显示屏，且设备外壳的前表面靠近显示屏的下方位置设有操作面板，所述设备外壳的前表面靠近底部位置连接有辅助收纳装置，且设备外壳的前表面靠近另一侧位置设有防护门，所述防护门通过合页与设备外壳活动连接，且防护门的内部靠近中间位置嵌设有观察窗，所述防护门的内部靠近边缘位置连接有门锁。本实用新型所述的一种便于使用的BGA元器件透视设备，属于透视检测设备领域，能够方便对辅助工具进行收纳，且能够对BGA元器件起到压紧的作用。
基本信息
专利标题 ：
一种便于使用的BGA元器件透视设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021775468.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-20
授权号 ：
CN212845112U
授权日 ：
2021-03-30
发明人 ：
罗超沈久安苏毅
申请人 ：
深圳市添富泰电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明新区公明街道马山头社区第四工业区64栋F
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021775468.5
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2021-03-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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