一种信号完整性测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种信号完整性测试装置，包括操作校验器、噪声信号发生器、与该操作校验器连接的第一操作信号端、以及与该噪声信号发生器连接的噪声信号输出端，其中，所述操作校验器包括操作控制器和数据校验器，所述数据校验器为信号完整性验证器。由此可以通过第一操作信号端进行控制操作的同时，从噪声信号输出端输出噪声干扰信号，以测试在外部噪声干扰情况下器件的信号完整性，从而保证信号完整性。该测试装置可以在任何时候对器件的信号完整性进行测试，测试操作简单，可以节省成本。
基本信息
专利标题 ：
一种信号完整性测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021806600.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-25
授权号 ：
CN213041954U
授权日 ：
2021-04-23
发明人 ：
肖光
申请人 ：
武汉新芯集成电路制造有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖开发区高新四路18号
代理机构 ：
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 ：
远明
优先权 ：
CN202021806600.4
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-04-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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