一种芯片架构及信号完整性测试方法
公开
摘要
本申请公开了一种芯片架构及信号完整性测试方法，该芯片架构包括多个待测模块和测试模块，所述测试模块包括功能寄存器、数据寄存器和状态寄存器，当所述测试模块收到任一所述待测模块的通信链路的测试指令，根据所述测试指令配置所述功能寄存器和所述测试指令对应的所述数据寄存器，以使所述状态寄存器和/或所述待测模块的引脚输出测试结果。本申请不需要将芯片安装于主板上，直接根据芯片架构内部的测试模块，就能够得到每个待测模块的通信链路的信号测试结果，过程简单快捷，测试成本低，测试范围明确，能够准确快速地确定不同待测模块的测试效果，确保了芯片的信号完整性。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片架构及信号完整性测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114297134A
申请号 ：
CN202111447237.0
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-11-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
庄戌堃
申请人 ：
山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
申请人地址 ：
山东省济南市自由贸易试验区济南片区浪潮路1036号浪潮科技园S01楼35层
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
吴磊
优先权 ：
CN202111447237.0
主分类号 ：
G06F15/78
IPC分类号 ：
G06F15/78 G01R31/317 G01R31/319
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F15/00
通用数字计算机；通用数据处理设备
G06F15/76
计算机程序存储的通用架构
G06F15/78
包括单个中央处理单元的
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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