一种方便检测多角度标志的逆反射标志测量仪
授权
摘要
本实用新型公开一种方便检测多角度标志的逆反射标志测量仪，包括暗箱，所述暗箱侧壁上设有光源和光探测器，所述光源和所述光探测器之间设有遮光板，所述暗箱内远离所述光源的一端设有载物板，所述载物板两端分别固接有第一圆杆和第二圆杆，所述载物板通过所述第一圆杆、第二圆杆与所述暗箱相对的两侧壁转动式连接，所述第一圆杆远离所述载物板的一端设有紧固机构，所述第二圆杆远离所述载物板的一端设有角度调节机构，所述紧固机构和所述角度调节机构均位于所述暗箱外；所述载物板上设有夹持试样的夹持机构，所述暗箱顶部设有可开关顶盖。本实用新型通过旋转旋钮调整测量角度，可以更方便的实现多角度测量。
基本信息
专利标题 ：
一种方便检测多角度标志的逆反射标志测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021877083.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-01
授权号 ：
CN212872186U
授权日 ：
2021-04-02
发明人 ：
黎明黄永成沈卫东万正华朱文彬匡怡周佳熊伟钟伟凡思磊张孟珂雷孟郑桂民
申请人 ：
中南检测技术有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东西湖区金银湖街环湖中路金银湖科技园7-101号生产厂房
代理机构 ：
南京纵横知识产权代理有限公司
代理人 ：
徐瑛
优先权 ：
CN202021877083.X
主分类号 ：
G01N21/17
IPC分类号 ：
G01N21/17 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
法律状态
2021-04-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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