一种高适用性逆反射标志测量仪
授权
摘要
本实用新型涉及一种高适用性逆反射标志测量仪，其包括光学暗箱和光源，光源设置在光学暗箱内，光学暗箱的侧部设有开口，开口处设有试样；光学暗箱的上侧设有长条孔，长条孔内设有若干光纤，每一光纤上均连接有光探测器，还包括左夹板和右夹板，左夹板固定在光学暗箱的上侧，且左夹板朝向右夹板的一侧设有若干弹性环；右夹板沿长条孔的宽度方向滑移连接于光学暗箱，光学暗箱上设有锁紧组件。当不同直径的光纤嵌入到弹性环内后，弹性环均能够将光纤夹紧固定，然后将右夹板沿长条孔的宽度方向滑动使得弹性环被挤压形变，并通过锁紧组件将右夹板锁紧固定，即可提高弹性环对光纤的夹紧效果。本实用新型适用性较强。
基本信息
专利标题 ：
一种高适用性逆反射标志测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020429421.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-28
授权号 ：
CN211741048U
授权日 ：
2020-10-23
发明人 ：
唐向前张荣华张志王志宏
申请人 ：
浙江爱丽智能检测技术集团有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市淳安县千岛湖镇珍珠大道1289号3幢一楼
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020429421.7
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/552
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-10-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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