一种快速透反射测量仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种快速透反射测量仪，包括底座、发射机构、接收机构及被测样品组件，且发射机构、接收机构相对被测样品组件能够旋转，用于调节发射机构和接收机构之间的夹角，相对于被测样品组件对称后快速精准测量被测样品组件的被测样品的透射率和/或反射率。此外，本实用新型还包括宽谱光源和光纤光谱仪。光纤光谱仪采用线阵光电探测器，以保证所探测的光谱被快速一次性成像到线阵光电探测器。本实用新型的发射机构及接收机构分别通过光纤和宽谱光源和光纤光谱仪连接，能快速精准地实现对测量样品的透射率或反射率测量。
基本信息
专利标题 ：
一种快速透反射测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121274220.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-06-08
授权号 ：
CN216594769U
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
刘民玉苑高强
申请人 ：
高利通科技（深圳）有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区观澜街道新澜社区观光路1301-8号201
代理机构 ：
深圳市合道英联专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
廉红果
优先权 ：
CN202121274220.5
主分类号 ：
G01N21/55
IPC分类号 ：
G01N21/55 G01N21/59 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/55
镜面反射率
法律状态
2022-05-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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