一种基于曲面棱镜的offner高光谱成像系统
授权
摘要
本实用新型提供一种基于曲面棱镜的offner高光谱成像系统,解决现有此类非共轴光学系统存在加工精度要求高、装调空间紧凑、相位调整难度大的问题。该成像系统包括基板、编码组件、光学单元、探测器组件和第一精测镜组件;光学单元包括多个曲面棱镜,各曲面棱镜均采用方形曲面棱镜,曲面棱镜通过柔性支撑装置安装在基板上;在柔性装置上设置第二精测镜组件用于装调过程中监测光学单元中各组件的空间角度;第一精测镜组件安装于基板上,用于该offner高光谱成像系统与其他系统集成装配时,监测整机的空间角度。各光学元件均采用模块化设计,并通过柔性支撑装置保证各光学元件在复杂力热环境下具有较高的面型精度和位置精度。
基本信息
专利标题 :
一种基于曲面棱镜的offner高光谱成像系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021953921.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-08
授权号 :
CN212567668U
授权日 :
2021-02-19
发明人 :
贾昕胤王飞橙张兆会李立波王爽孙丽军郝雄波李思远
申请人 :
中国科学院西安光学精密机械研究所
申请人地址 :
陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
代理机构 :
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 :
郑丽红
优先权 :
CN202021953921.7
主分类号 :
G01J3/02
IPC分类号 :
G01J3/02 G01J3/28
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/02
零部件
法律状态
2021-02-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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