四片式测座装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种四片式测座装置，包括定位单元及测座单元；其中，定位单元包括固定座、定位板；测座单元包括两间隔设置于定位板的第二面上的测座组，测座组包括上连接块、第一测片、第二测片及绝缘片，第一测片具有向外凸伸的第一检测端，第二测片具有向外凸伸的第二检测端，其中，第一测片与第一检测端之间设有第一凹曲面及第一凸曲面，第二测片与第二检测端之间设有第二凹曲面及第二凸曲面。本实用新型的优点在于，凹曲面和凸曲面相匹配的结构设计，可增加检测的缓冲力。
基本信息
专利标题 ：
四片式测座装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022149998.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-27
授权号 ：
CN213715358U
授权日 ：
2021-07-16
发明人 ：
徐雅雯
申请人 ：
徐雅雯
申请人地址 ：
中国台湾高雄市鼓山区九如四路553号5楼之1
代理机构 ：
深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人 ：
张禹
优先权 ：
CN202022149998.5
主分类号 ：
G01R31/01
IPC分类号 ：
G01R31/01 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
G01R31/01
对相似的物品依次进行测试，例如在成批生产中的“过端—不过端”测试；当物体通过测试台时对物体进行测试
法律状态
2021-07-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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