用于高通量电学测试的装置
授权
摘要
本说明书一个或多个实施例公开了一种用于高通量电学测试的装置，包括电源、电压表、板卡，以及设置于所述板卡上的多个输出端子和多个输入端子，其中所述多个输出端子并联连接至所述多个输入端子中的每一个，所述多个输入端子分别对应地连接至所述电源和所述电压表；加工成霍尔条的待测样品包括主体部和凸起部；多个输出端子用于分别对应地连接至已加工成霍尔条的待测样品的凸起部，并且所述多个输出端子中的每一个和所述多个输入端子中的每一个之间设置有用于控制通断电的开关。通过控制所述霍尔条的凸起部与检测装置的通断电检测所述待测样品的电学性能，可以实现对微纳米级材料或者器件的高通量电学测试，并且测试效率得到提高。
基本信息
专利标题 ：
用于高通量电学测试的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022166250.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-27
授权号 ：
CN213240355U
授权日 ：
2021-05-18
发明人 ：
周艳赵月雷范开泉
申请人 ：
香港中文大学（深圳）
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区龙翔大道2001号
代理机构 ：
北京德崇智捷知识产权代理有限公司
代理人 ：
王欣
优先权 ：
CN202022166250.6
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R27/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-05-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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