高通量测试芯片
避免重复授权放弃专利权
摘要
高通量测试芯片，在芯片基底(01)上设有导电层(02)，在导电层(02)上设有带有过孔的绝缘层(03)，在带有过孔的绝缘层(03)的边沿上设有间隔层(04)，在芯片中间间隔层(04)内的带有过孔的绝缘层(03)上设有微电极组(10)，在芯片中间间隔层(04)上设有芯片盖片(05)，进样口(06)设在芯片盖片(05)的中部；测试方法为运用光电导材料构成多相行波微电极阵列，同时运用虚拟电极直写装置在芯片电极组平面上投射预定的光图案阵列，在细胞初始聚集区的两侧形成虚拟电极阵列，使得多个细胞分别按照各自的光模式路径水平行进，以实现高通量并行测试，然后通过改变信号频率，通过图像采集装置记录下各频率点的细胞运动情况，最后运用图像处理方法得出每个细胞在一定频率范围内的介电谱。
基本信息
专利标题 ：
高通量测试芯片
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200820116080.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2008-05-13
授权号 ：
CN201188104Y
授权日 ：
2009-01-28
发明人 ：
朱晓璐易红倪中华
申请人 ：
东南大学
申请人地址 ：
211109江苏省南京市江宁开发区东南大学路2号
代理机构 ：
南京经纬专利商标代理有限公司
代理人 ：
叶连生
优先权 ：
CN200820116080.7
主分类号 ：
G01N33/48
IPC分类号 ：
G01N33/48 C12Q1/02 A61B5/00 A61B10/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/208
••涂料，例如镀层
G01N33/48
生物物质，例如血、尿；血球计数器
法律状态
2013-03-06 ：
避免重复授权放弃专利权
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101526628788
IPC(主分类) : G01N 33/48
专利号 : ZL2008201160807
申请日 : 20080513
授权公告日 : 20090128
放弃生效日 : 20080513
号牌文件序号 : 101526628788
IPC(主分类) : G01N 33/48
专利号 : ZL2008201160807
申请日 : 20080513
授权公告日 : 20090128
放弃生效日 : 20080513
2009-01-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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