一种辐照工厂环境监测系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种辐照工厂环境监测系统，涉及环境监测技术领域,该系统包括：数据采集模块、数据通信模块和环境监测中心；所述数据采集模块包括γ辐射探测器；所述数据采集模块，用于采集辐照工厂的环境监测数据，并将环境监测数据通过数据通信模块发送至环境监测中心；所述环境监测中心，用于对环境监测数据进行分析，生成环境核辐射质量报告，构建辐照工厂环境监测数据库，实现辐照工厂环境核辐射污染预警。本实用新型通过在辐照工厂内设置γ辐射探测器采集辐照工厂的辐射剂量率值，同时将环境其他要素进行了监测采集，能准确采集辐照工厂环境数据，实现辐照工厂环境核辐射污染预警。
基本信息
专利标题 ：
一种辐照工厂环境监测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022181117.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-28
授权号 ：
CN213876038U
授权日 ：
2021-08-03
发明人 ：
蔡杰进唐智洪罗鹏宇罗敏玲黄文启何伟涛
申请人 ：
华南理工大学;广州辐锐高能技术有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市天河区五山路381号
代理机构 ：
广州市华学知识产权代理有限公司
代理人 ：
雷芬芬
优先权 ：
CN202022181117.8
主分类号 ：
G01T1/02
IPC分类号 ：
G01T1/02 G01D21/02 H04L29/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/02
剂量计
法律状态
2021-08-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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