一种半导体载带拉力测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种半导体载带拉力测试装置，它包括机架、驱动机构、载带固定座、盖带夹和拉力计，所述拉力计固定在机架的一端，所述机架的另一端内部设置有电机，所述载带固定座位于拉力计的测力钩一侧，所述盖带夹固定在拉力计的测力钩上，所述载带固定座的下方开设有凹槽，所述驱动机构位于凹槽内，所述电机通过驱动机构带动载带固定座在机架上做往复运动。本实用新型提供一种半导体载带拉力测试装置，它可以提高传统拉力测试的准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种半导体载带拉力测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022181240.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-29
授权号 ：
CN213516626U
授权日 ：
2021-06-22
发明人 ：
王玉桃万鑫
申请人 ：
常州银河世纪微电子股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省常州市新北区长江北路19号
代理机构 ：
常州市科谊专利代理事务所
代理人 ：
孙彬
优先权 ：
CN202022181240.X
主分类号 ：
G01N3/08
IPC分类号 ：
G01N3/08 G01N3/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/00
用机械应力测试固体材料的强度特性
G01N3/08
施加稳定的张力或压力
法律状态
2021-06-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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