一种具有校正结构的信号处理器高度测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种具有校正结构的信号处理器高度测试装置，包括外壳和螺栓，所述外壳的底部设置有底槽，且底槽的内侧安装有底架，所述外壳的左右两侧均设置有支柱，且支柱的顶部内侧安装有防滑套，所述防滑套的内侧设置有把手，所述外壳的内部设置有检测器件板，且检测器件板的下方设置有散热片，所述散热片的下方设置有散热扇，且散热扇的外侧设置有滤网，所述滤网的下方设置有进气口，所述外壳的后端设置有密封垫，且密封垫的后侧设置有信号校正天线，所述信号校正天线的左侧设置有天线槽。本实用新型设置有信号校正天线与外壳之间构成转动结构，这样可以根据实际需求通过转动信号校正天线对信号的强度进行校正。
基本信息
专利标题 ：
一种具有校正结构的信号处理器高度测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022249685.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-10
授权号 ：
CN213547969U
授权日 ：
2021-06-25
发明人 ：
田林刘斐
申请人 ：
无锡雷菲电子科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市惠山区堰桥街道堰丰路26-1
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202022249685.7
主分类号 ：
H05K5/02
IPC分类号 ：
H05K5/02 H05K7/20 H01Q1/12 H01Q1/22 H01Q3/02 H01R13/52 G01B21/08
法律状态
2021-06-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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