一种升降式防干扰测试结构
授权
摘要

本实用新型涉及无线充测试治具技术领域,具体涉及一种升降式防干扰测试结构,包括底板、安装于底板表面的升降组件、安装于底板表面的支撑座、安装于升降组件的放置治具、及安装于升降组件位于放置治具一侧的测试感应组件;升降组件包括安装于底板的升降导杆、可活动于升降导杆的升降板、设置于升降导杆用于升降板复位的复位元件;支撑座表面安装有若干组测试连接组件,放置治具开设有若干放置槽,放置槽放置有待测试件,待测试件与测试连接组件连接;本实用新型采用了可升降的治具,在测试过程中将治具沿升降组件下降,下降后使得治具上的测试产品与测试连接部分远离,故预防出现干扰现象,从而保证测试效果。

基本信息
专利标题 :
一种升降式防干扰测试结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022300260.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-15
授权号 :
CN213903670U
授权日 :
2021-08-06
发明人 :
罗成谭文章
申请人 :
东莞市冠佳电子设备有限公司
申请人地址 :
广东省东莞市塘厦镇莆心湖浦龙工业区莆田路7号
代理机构 :
东莞恒成知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
韩丹
优先权 :
CN202022300260.4
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2021-08-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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