一种晶闸管单元的均压测试装置
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摘要

本实用新型公开了一种晶闸管单元的均压测试装置,包括均压测试仪,所述均压测试仪的下方设有升降台,所述升降台的下方设有底座,所述底座的两侧设有支撑杆,所述支撑杆的顶部设有中空的顶板,所述顶板的两侧均设有两个螺纹套筒,所述螺纹套筒内螺纹连接有升降立柱,所述底座的两侧设有龙门架,所述龙门架上设有与所述升降立柱相适配的导向套,所述升降立柱的底部设有滚轮,所述底座上设有供所述滚轮穿过的让位槽,所述底座的两侧位于所述升降台与龙门架之间设有铰接座,所述升降台的两侧铰接设有与所述升降立柱铰接的翘杆。本实用新型的晶闸管单元的均压测试装置,属于晶闸管技术领域,结构简单,搬运、转移方便。

基本信息
专利标题 :
一种晶闸管单元的均压测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022328122.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-19
授权号 :
CN213240403U
授权日 :
2021-05-18
发明人 :
宋解放
申请人 :
襄阳先泰电子有限公司
申请人地址 :
湖北省襄阳市樊城区松鹤西路72号
代理机构 :
广州海心联合专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
马赟斋
优先权 :
CN202022328122.7
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-05-18 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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