一种半导体晶闸管性能测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种半导体晶闸管性能测试装置，包括底座，所述底座上固定设置有背板，所述底座上设有晶闸管，且所述底座上设有与晶闸管对应的固定装置，所述背板远离晶闸管的一侧侧壁上滑动设置有两块活动板，两块所述活动板均通过滑块滑动设置在背板上，所述背板上还设有与活动板对应的传动机构，所述背板上还设有与晶闸管对应的测试机构。本实用新型能够快速的对晶闸管进行性能检测，替代了人工检测的操作，大大提高了检测效率，且在检测的过程中有效的保护了晶闸管的引脚，避免了晶闸管引脚受到压力出现弯折损坏的问题，大大提高了晶闸管的使用寿命。
基本信息
专利标题 ：
一种半导体晶闸管性能测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021804703.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-26
授权号 ：
CN213091804U
授权日 ：
2021-04-30
发明人 ：
杨狄
申请人 ：
苏州匠心信息科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市昆山市玉山镇恒盛路1219号009幢4#车间5楼
代理机构 ：
北京高航知识产权代理有限公司
代理人 ：
乔浩刚
优先权 ：
CN202021804703.7
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-04-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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