本实用新型公开了一种半导体性能测试用双头探针，包括连接套，所述连接套的一侧外壁上焊接有斜套，且连接套的一侧内壁上开设有螺纹槽，所述连接套的一侧内壁上靠近螺纹槽的一侧位置处焊接有固定盘，所述连接套的内部设置有探针套，所述探针套的一端焊接有螺纹头，且探针套的内部滑动连接有第一滑座，所述第一滑座的一侧外壁上焊接有探针杆。该半导体性能测试用双头探针，通过连接套和探针套的相互配合，并在螺纹头与螺纹槽的螺纹旋合连接，可以便捷的将探针套内的探针杆拆卸取出，一方面便于对磨损的探针杆进行更换，提高探针杆更换的便捷，另一方面便于对拆卸后的探针充分清洗，保证探针内部清洗的效果。