一种双头测试探针
授权
摘要
本实用新型公开了一种双头测试探针,具体涉及测试技术领域,包括杆筒,所述杆筒的外侧壁固定连接有滑条,所述杆筒的两端分别设置有第一保护壳和第二保护壳,所述杆筒的两端可拆卸设置有连接套,所述连接套的内侧壁设置有内螺纹,所述杆筒朝向连接套的一面固定连接有凸台,所述凸台的侧壁设置有外螺纹,所述内螺纹与外螺纹相配合,所述凸台的内部设置有连接杆,所述连接杆远离凸台的一端固定连接有第一针头。本实用新型中,使用方便,在测试结束后,可以避免第一针头以及第二针头在闲置时因碰撞而损坏,且当针头发生损坏后,能便于对针头进行更换。
基本信息
专利标题 :
一种双头测试探针
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122220873.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-09-14
授权号 :
CN216485181U
授权日 :
2022-05-10
发明人 :
金玄
申请人 :
苏州金凤明电子技术有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴江区松陵镇长安路3099号南楼2201-11室
代理机构 :
宿迁市永泰睿博知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘慧
优先权 :
CN202122220873.1
主分类号 :
G01R1/067
IPC分类号 :
G01R1/067
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2022-05-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载