本实用新型涉及半导体生产技术领域，尤其是一种半导体晶闸管性能测试装置，针对现有的使用不便的问题，现提出如下方案，其包括工作箱，所述工作箱的内壁固定连接有分隔板，所述分隔板的上侧固定连接有安装板，所述安装板的上侧设置有滑槽，所述安装板内滑动连接有位于滑槽内的滑块，所述滑块的下侧固定连接有与安装板固定连接的弹簧，两个所述滑块之间固定连接有移动板，所述移动板的底部通过螺栓固定连接有震动电机，所述移动板的上侧螺纹套接有连接柱，所述连接柱的上侧固定连接有功能块，本实用新型结构简单，使用方便，方便的进行检测，可以满足不同环境的改变，保证检测的全面，方便适应不同的工作，方便携带。