一种磁瓦外观缺陷智能检测装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种磁瓦外观缺陷智能检测装置,包括CPU控制组件、机械控制组件、成像组件以及UI分析组件,CPU控制组件包括控制壳体、PLC、触摸屏以及电气驱动,PLC设于控制壳体的内部,触摸屏设于控制壳体的前侧表面,PLC的输出端与电气驱动连接,CPU控制组件的后端连接有机械控制组件,成像组件设于机械控制组件上方,UI分析组件设于成像组件的后端。本实用新型通过CPU控制组件、机械控制组件、成像组件以及UI分析组件之间的相互配合,将磁瓦放置在机械控制组件的输送带上,依次通过成像组件内高速相机进行检测对比、取像,并通过控制器分析判断磁瓦否存在缺陷,替代人工检测,提高自动化程度以利于生产效率的提高。

基本信息
专利标题 :
一种磁瓦外观缺陷智能检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022329775.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-19
授权号 :
CN213398244U
授权日 :
2021-06-08
发明人 :
于军
申请人 :
南通富热特窑炉有限公司
申请人地址 :
江苏省南通市通州湾江海联动开发示范区中南高科产业园11号地块13号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202022329775.7
主分类号 :
G01N21/892
IPC分类号 :
G01N21/892  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/89
在移动的材料中,例如,纸张、织物中
G01N21/892
特征在于待测的瑕疵、缺陷或物品的特点
法律状态
2021-06-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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