一种耦合/去耦网络及抗干扰测试系统

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摘要

本实用新型涉及一种耦合/去耦网络及抗干扰测试系统，包括耦合电路和去耦电路，所述耦合电路包括耦合电容和耦合隔离电感，所述耦合电容的一端连接干扰信号发生器，耦合电感的另一端通过耦合隔离电感连接至EUT端口，所述耦合电容用于通过所述耦合隔离电感将干扰信号同时耦合到两根被测线上；所述去耦电路包括去耦电容、去耦隔离电感和共模电感，所述去耦电容的第一端连接至去耦隔离电感的中心抽头，所述去耦电容的第二端接地，所述去耦隔离电感的两端对应连接至AE端口；所述共模电感的一侧连接至EUT端口，所述共模电感的另一侧连接至AE端口。本实用新型通过信号隔离电感来隔离被测线之间的信号导通，同时可以将干扰信号无衰减的传递给被测线路。

基本信息

专利标题：

一种耦合/去耦网络及抗干扰测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202022408775.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-10-26

授权号：

CN213152067U

授权日：

2021-05-07

发明人：

胡小军陈思远王津黄学军

申请人：

苏州泰思特电子科技有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市峨眉山路99号

代理机构：

苏州知途知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

马刚强

优先权：

CN202022408775.6

主分类号：

H04B17/00

IPC分类号：

H04B17/00 G01R31/00