一种光路耦合测试系统
授权
摘要
本发明提供一种光路耦合测试系统，包括集成有光路切换电路的第一PCB板、具有多条光通路且采用单根光纤传输光信号的待测光电模组、电信号输入装置、测试仪及多个具有接线端口的琴键开关，其中，各琴键开关或部分琴键开关的接线端口分别通过连接线与第一PCB板电连接，电信号输入装置电连接于第一PCB板，待测光电模组电连接于第一PCB板，待测光电模组的光信号输出端通过光纤与测试仪连接。本发明不仅能够大幅度提升光路耦合的测试效率，还能够大幅度提升由光路切换电路和多个琴键开关所构成的光路切换器件的灵活度和可扩展性，进而能够大幅度提升应用此光路切换器件的光路耦合测试系统的灵活度和可扩展性。
基本信息
专利标题 ：
一种光路耦合测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113411124A
申请号 ：
CN202110582925.1
公开（公告）日 ：
2021-09-17
申请日 ：
2021-05-27
授权号 ：
CN113411124B
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
张宽彭寒勤黄君彬付全飞杨勇陈纪辉
申请人 ：
深圳市埃尔法光电科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区龙华街道清湖社区清湖村宝能科技园7栋A座10楼
代理机构 ：
深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙)
代理人 ：
王海滨
优先权 ：
CN202110582925.1
主分类号 ：
H04B10/079
IPC分类号 ：
H04B10/079
法律状态
2022-05-31 ：
授权
2021-10-08 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 10/079
申请日 : 20210527
申请日 : 20210527
2021-09-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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