一种LED晶粒生产线用外观检测设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种LED晶粒生产线用外观检测设备，包括工作箱、检测设备和传输装置，所述工作箱内部设有检测设备和传输装置，所述检测设备与工作箱顶部固定连接，所述检测设备设置于传输装置上方，所述检测设备包括拍摄相机和若干个探针，所述工作箱外部上方设有显示器，所述拍摄相机和若干个探针均与显示器连接，所述工作箱一侧设有进料口和出料口，所述工作室另一侧设有可视玻璃板，本实用新型结构科学合理，使用安全方便，该外观检测设备可以高效地检测出LED晶粒外观是否有缺陷，同时，还有检测出膜上的晶粒是否出现位置偏移，并且，该外观检测设备结构简单，原理简单，检测效率高。
基本信息
专利标题 ：
一种LED晶粒生产线用外观检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022493354.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-11-02
授权号 ：
CN213482042U
授权日 ：
2021-06-18
发明人 ：
林永祥王祥昊钱赟
申请人 ：
琉明光电(常州)有限公司
申请人地址 ：
江苏省常州市武进区武宜南路377号10号楼3F
代理机构 ：
北京华际知识产权代理有限公司
代理人 ：
黎芳芳
优先权 ：
CN202022493354.8
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/88 G01R1/04 G01R31/01 G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2021-06-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
