一种LED晶粒生产线用外观检测设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种LED晶粒生产线用外观检测设备,包括工作箱、检测设备和传输装置,所述工作箱内部设有检测设备和传输装置,所述检测设备与工作箱顶部固定连接,所述检测设备设置于传输装置上方,所述检测设备包括拍摄相机和若干个探针,所述工作箱外部上方设有显示器,所述拍摄相机和若干个探针均与显示器连接,所述工作箱一侧设有进料口和出料口,所述工作室另一侧设有可视玻璃板,本实用新型结构科学合理,使用安全方便,该外观检测设备可以高效地检测出LED晶粒外观是否有缺陷,同时,还有检测出膜上的晶粒是否出现位置偏移,并且,该外观检测设备结构简单,原理简单,检测效率高。
基本信息
专利标题 :
一种LED晶粒生产线用外观检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022493354.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-11-02
授权号 :
CN213482042U
授权日 :
2021-06-18
发明人 :
林永祥王祥昊钱赟
申请人 :
琉明光电(常州)有限公司
申请人地址 :
江苏省常州市武进区武宜南路377号10号楼3F
代理机构 :
北京华际知识产权代理有限公司
代理人 :
黎芳芳
优先权 :
CN202022493354.8
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01 G01N21/88 G01R1/04 G01R31/01 G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2021-06-18 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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