平行处理的多合一测试系统
授权
摘要
本案提供一种平行处理的多合一测试系统，适用于对多个电子装置同步进行测试，且包含计算机主机、电源、分析装置、多个电子负载及待测的电子装置等。电源提供电能予电子装置。分析装置连接于计算机主机、电子负载、测试装置及电子装置，且能够撷取待测的电子装置的电气信号数据并提供予计算机分析使用。电子负载连接于计算机主机及电子装置，并对电子装置进行测试。计算机主机用于设定及实时获取电源、分析装置、电子负载、测试装置及电子装置中的电性参数并做进一步的分析，在测试执行一段时间后，计算机主机依据电性参数及电气信号数据而产生电子装置的测试结果与其分析报表。
基本信息
专利标题 ：
平行处理的多合一测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022501067.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-11-03
授权号 ：
CN213457162U
授权日 ：
2021-06-15
发明人 ：
庄世昌黄喻鸿洪春香林世傑蒋诸华
申请人 ：
台达电子工业股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾桃园市中坜区中坜工业区东园路3号
代理机构 ：
北京律诚同业知识产权代理有限公司
代理人 ：
王玉双
优先权 ：
CN202022501067.7
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/40
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-06-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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