用于单晶叶片垂直度定位的校正仪
授权
摘要
本实用新型属于单晶叶片铸造应用技术领域，具体公开了用于单晶叶片垂直度定位的校正仪，包括底座、横支撑座、限位凸块、敞开形限位凹槽、定位螺孔、圆盘、若干个限位凸柱、L形校正支架、腰形通槽、锁紧螺钉、若干个校正限位横板和横校正限位凹槽等。本实用新型的用于单晶叶片垂直度定位的校正仪的有益效果在于：其设计结构合理，实现模壳垂直度预先的精准、高效和可靠的校正作业，进而保证后续单晶叶片铸造加热过程中不存在现有的问题，即单晶叶片铸造时完成平行或线性方式加热，加热受热均匀，有效的提高单晶叶片铸造的成品品质、降低成本。
基本信息
专利标题 ：
用于单晶叶片垂直度定位的校正仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022502549.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-11-03
授权号 ：
CN213147786U
授权日 ：
2021-05-07
发明人 ：
朱鑫涛王富杨强沈斌朱玉棠
申请人 ：
泰州市金鹰精密铸造有限公司;西安交通大学
申请人地址 ：
江苏省泰州市兴化陈堡开发区裕堡路1号
代理机构 ：
江苏圣典律师事务所
代理人 ：
贺翔
优先权 ：
CN202022502549.4
主分类号 ：
G01B21/22
IPC分类号 ：
G01B21/22 B22D2/00 B22D27/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/22
•用于计量角度或锥度；用于检测轴线准直
法律状态
2021-05-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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