一种便于定位的周向X射线探伤检测台
授权
摘要
本实用新型公开了一种便于定位的周向X射线探伤检测台，由周向X射线检测机支撑平台、定位器、圆形支撑架以及被检培训试样固定装置组成，该探伤检测台可一次性对数十个培训试样焊缝进行无损检测，且使用定位器有助于操作人员明确样品在检测台上的固定位置，无需反复调整，大大提高了试样检测效率，降低检测和培训成本。
基本信息
专利标题 ：
一种便于定位的周向X射线探伤检测台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022520385.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-11-04
授权号 ：
CN213398268U
授权日 ：
2021-06-08
发明人 ：
周陈龙董红年闫爱军范志东郭俊文都劲松马剑民姚佳鑫乔越
申请人 ：
西安热工研究院有限公司
申请人地址 ：
陕西省西安市碑林区兴庆路136号
代理机构 ：
西安通大专利代理有限责任公司
代理人 ：
李红霖
优先权 ：
CN202022520385.8
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2021-06-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
