基于GPS控制测量技术的高精度测量装置

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摘要

本实用新型公开了一种基于GPS控制测量技术的高精度测量装置，包括：GPS‑RTK定位装置、固定基座以及三角支架；所述GPS‑RTK定位装置设置于所述固定基座内，所述固定基座与所述三角支架连接；所述固定基座包括底座和限位座，所述限位座可拆卸安装于所述底座的底部；所述底座的一侧设置有盲孔，所述限位座上开设有与所述盲孔匹配的通孔，所述底座和所述限位座通过固定销穿过所述通孔固定。本实用新型提供的一种基于GPS控制测量技术的高精度测量装置，通过设置固定基座，从而形成对GPS‑RTK定位装置的稳定固定，并通过设置限位组件，进一步减小体积大小以及空间占用，同时便于工作人员携带。

基本信息

专利标题：

基于GPS控制测量技术的高精度测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202022603292.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-11-02

授权号：

CN213934229U

授权日：

2021-08-10

发明人：

刘新平王禹

申请人：

湖南安全技术职业学院（长沙煤矿安全技术培训中心）

申请人地址：

湖南省长沙市万家丽北路土桥304号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202022603292.1

主分类号：

G01S19/43

IPC分类号：

G01S19/43 G01S19/01