用于通过光学传感器分析气体的方法
公开
摘要
一种用于测量存在于气体中的气态物质(Gx)的量(cx)的方法，所述气态物质能够在吸收光谱带(Δx)中吸收光，所述方法包括以下步骤：a)将所述气体布置在光源(11)与测量光电检测器(20)之间，所述光源(11)能够发射入射光波(12)，所述入射光波穿过气体向所述测量光电检测器(20)传播，所述光源被电源电流经过，以使得所述光源达到温度值；b)通过所述光源(11)照明气体(G)；c)通过所述测量光电检测器(20)，测量由所述气体传输的光波(14)在包括所述吸收光谱带(Δx)的测量光谱带(Δmes)中的称作测量强度的强度(I(k))；d)通过参照光电检测器(20ref)，测量参照光波(12ref)的称作参照强度的强度(Iref(k))，所述参照光波由所述光源(11)在参照光谱带(Δref)中发射；在多个测量时刻(1…k…K)，实施所述步骤b)至d)，所述方法包括，在每个测量时刻：e)基于由所述参照光电检测器测量的参照强度(Iref(k))，考虑到代表所述入射光波(12)在测量光谱带(Δmes)中的强度相对于所述入射光波(12)在参照光谱带中的强度的变化的修正函数(δ)。
基本信息
专利标题 ：
用于通过光学传感器分析气体的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114599955A
申请号 ：
CN202080055665.6
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2020-07-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
坦·特龙·勒
申请人 ：
伊莱肯兹公司
申请人地址 ：
法国格勒诺布尔
代理机构 ：
北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
程强
优先权 ：
CN202080055665.6
主分类号 ：
G01N21/3504
IPC分类号 ：
G01N21/3504 G01N21/31 G01N21/27 G01N33/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术
G01N21/35
利用红外光
G01N21/3504
用于气体分析，例如复合气体分析
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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