光检测装置
实质审查的生效
摘要
光检测装置具备：光半导体元件，其具有多个受光部；及光透过基板，其直接地接合于光半导体元件或仅经由光透过性的粘结层而接合于光半导体元件。在光透过基板的与光半导体元件相反侧的表面，设置有具有折射率朝向光透过基板自空气的折射率向光透过基板的折射率连续地变化的凹凸构造的第1折射率变化层。若将光半导体元件与第1折射率变化层之间的距离设为A，将多个受光部中相邻的受光部之间的距离设为B，将相对于空气的折射率的光透过基板的折射率设为n，则A＞B/[2tan{sin‑1(sin1°/n)}]成立。
基本信息
专利标题 ：
光检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114270538A
申请号 ：
CN202080059130.6
公开（公告）日 ：
2022-04-01
申请日 ：
2020-08-19
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
下原健史
申请人 ：
浜松光子学株式会社
申请人地址 ：
日本静冈县
代理机构 ：
北京尚诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
杨琦
优先权 ：
CN202080059130.6
主分类号 ：
H01L31/0232
IPC分类号 ：
H01L31/0232
法律状态
2022-04-19 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 31/0232
申请日 : 20200819
申请日 : 20200819
2022-04-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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