检测方法及检测装置
公开
摘要
本发明提供一种有助于装置的小型化且能降低污染风险的检测方法及检测装置。本检测方法包括如下工序：朝向样本分装位置（61）沿第1轴（41）运送安放有反应容器（51）的架（50）的工序；沿与第1轴（41）在俯视视角下交叉的第2轴（42）使样本分装移液管（10）在架（50）的上方直线移动，且向位于样本分装位置（61）的反应容器（51）分装样本的工序；朝向试剂分装位置（62）沿第1轴（41）运送架（50）的工序；沿与第1轴（41）在俯视视角下交叉的第3轴（43）使试剂分装移液管（11）在架（50）的上方直线移动，且向位于试剂分装位置（62）的反应容器（51）分装试剂的工序；检测由样本与试剂制备的试样中的检测对象物的工序。
基本信息
专利标题 ：
检测方法及检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114577705A
申请号 ：
CN202111418812.4
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2021-11-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
小篠正继藤原大树三田大树冈嶋孝明平山英树
申请人 ：
希森美康株式会社
申请人地址 ：
日本兵库县神户市中央区胁浜海岸通1丁目5番1号
代理机构 ：
北京市安伦律师事务所
代理人 ：
杨永波
优先权 ：
CN202111418812.4
主分类号 ：
G01N15/14
IPC分类号 ：
G01N15/14 G01N35/00 G01N35/02 G01N35/10 G01N21/64 G01N21/47
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/10
测试单个颗粒
G01N15/14
电光测试
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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