检测装置与检测方法
公开
摘要
本发明公开一种检测装置与检测方法，其中该检测装置包括发光元件、光检测元件、至少一反射式光学薄膜元件以及控制单元。发光元件用以提供激发光束，其中主发光波长落于激发波段范围内的部分激发光束在照射待测物后产生荧光光束。光检测元件用以接收主发光波长落于检测波段范围内的部分荧光光束。控制单元与至少一反射式光学薄膜元件耦接。控制单元控制至少一反射式光学薄膜元件用以滤除入射光束的部分波段范围，且入射光束为激发光束与荧光光束的至少其中一者。
基本信息
专利标题 ：
检测装置与检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563379A
申请号 ：
CN202110108483.7
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2021-01-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张耀宗
申请人 ：
纬创资通股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾新北市
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
陈小雯
优先权 ：
CN202110108483.7
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
