应力解析装置
公开
摘要

本发明提供一种能够获得精度被进一步改善的应力图像的应力解析装置。应力解析装置具备:摄像元件,其针对对象物的同一区域获取2个以上的同一时间范围的温度图像;特征点提取部,其提取各温度图像中的特征点;射影变换部,其将各温度图像进行射影变换后相对于作为基准的温度图像进行位置对准,以使各温度图像中的特征点一致;像素重新排列部,其将进行射影变换后的各温度图像的像素排列相对于作为基准的温度图像的像素排列进行重新排列;应力变换部,其将像素重新排列后的各温度图像乘以应力变换系数来得到各应力图像;以及加法平均部,其对各应力图像进行加法平均来得到加法平均应力图像。

基本信息
专利标题 :
应力解析装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114303168A
申请号 :
CN202080059646.0
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2020-07-13
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
入江庸介井上裕嗣广田道泰
申请人 :
松下知识产权经营株式会社
申请人地址 :
日本大阪府
代理机构 :
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘新宇
优先权 :
CN202080059646.0
主分类号 :
G06T5/50
IPC分类号 :
G06T5/50  G06T5/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T5/00
图像的增强或复原
G06T5/50
通过使用多于一幅图像的,例如平均、减少
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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