颗粒分析装置
实质审查的生效
摘要
颗粒分析装置具有：储存有第一液体的上方液体空间、储存有第二液体的下方液体空间、将上方液体空间与下方液体空间连接的连接孔和第一～第四孔。第一～第四孔各自具有在颗粒分析装置的上表面开口的开口部。第一孔与第二孔向上方液体空间延伸。第三孔与第四孔向下方液体空间延伸。第一电极通过第一孔对上方液体空间内的第一液体施加电位，第二电极通过第三孔对下方液体空间内的第二液体施加电位。第一孔和第二孔的至少一者的开口部具有比该孔的其他部分大的面积。第三孔和第四孔的至少一者的开口部具有比该孔的其他部分大的面积。
基本信息
专利标题 ：
颗粒分析装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114286934A
申请号 ：
CN202080059790.4
公开（公告）日 ：
2022-04-05
申请日 ：
2020-05-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
室田雄辉吉富匠藤泽直广
申请人 ：
NOK株式会社
申请人地址 ：
日本东京都港区芝大门1丁目12番15号
代理机构 ：
北京派特恩知识产权代理有限公司
代理人 ：
马运刚
优先权 ：
CN202080059790.4
主分类号 ：
G01N15/12
IPC分类号 ：
G01N15/12 G01N27/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/10
测试单个颗粒
G01N15/12
库尔特计数器
法律状态
2022-04-22 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 15/12
申请日 : 20200514
申请日 : 20200514
2022-04-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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