不需校正的颗粒分析计
授权
摘要
本实用新型提供了一种不需校正的颗粒分析计装置。它是由最小刻度值为0.5(甲种)或最小刻度值为0.2(乙种)并在分度表上标有土粒有效沉降距离，构成双刻度的比重计与固定直径的专用量简配套组合成的。使用时不需刻度修正值，并能直接读得土粒有效沉降距离。有内附温度计的比重计还能同时指示温度和温度补正值。
基本信息
专利标题 ：
不需校正的颗粒分析计
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN85205497.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1985-11-28
授权号 ：
CN85205497U
授权日 ：
1986-09-03
发明人 ：
姚长华
申请人 ：
姚长华
申请人地址 ：
上海市东长治路549弄3号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN85205497.1
主分类号 ：
G01N15/04
IPC分类号 ：
G01N15/04 G01N9/14
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/04
测试悬浮颗粒的沉积
法律状态
1987-03-18 ：
授权
1986-09-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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