用于测量玻璃容器的壁厚的设备和方法
公开
摘要
本发明涉及一种用于测量玻璃容器的厚度的方法，包括以下步骤：‑选择从容器的彼此径向相对的第一侧和第二侧测量容器发出的辐射；‑选择测量容器发出的2800纳米到4000纳米范围内的第一光谱波段中的辐射和第二光谱波段中的辐射；‑同时从容器的每一侧测量来自壁的第一光谱波段和第二光谱波段中的辐射的强度；以及‑根据来自第一壁的在第一光谱波段和第二光谱波段中的辐射的强度的测量结果和来自第二壁的第一光谱波段和第二光谱波段中的辐射的强度的测量结果，至少确定第一壁和第二壁(22)的厚度。
基本信息
专利标题 ：
用于测量玻璃容器的壁厚的设备和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114375383A
申请号 ：
CN202080064544.8
公开（公告）日 ：
2022-04-19
申请日 ：
2020-07-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
M·勒孔特P-Y·索兰
申请人 ：
蒂阿马公司
申请人地址 ：
法国武尔勒斯
代理机构 ：
隆天知识产权代理有限公司
代理人 ：
石海霞
优先权 ：
CN202080064544.8
主分类号 ：
G01B21/08
IPC分类号 ：
G01B21/08 G01B11/06 G01N21/958 G01N25/72
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B21/08
用于计量厚度
法律状态
2022-04-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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