片材检查装置
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种能够实现省空间化、部件成本的削减以及维护工时的削减的片材检查装置。将用于检查片材的正面的瑕疵的第一光源部(Ls1)及第一检查部(S1)和用于检查片材的背面的瑕疵的第二光源部(Ls2)及第二检查部(S2)配置成如下位置关系：在片材上存在孔的情况下，第一检查部(S1)能够检测由第二光源部照射并透过了片材的孔的光。
基本信息
专利标题 ：
片材检查装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114502950A
申请号 ：
CN202080067322.1
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2020-03-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
川岛优人
申请人 ：
欧姆龙株式会社
申请人地址 ：
日本国京都府京都市
代理机构 ：
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 ：
方冬梅
优先权 ：
CN202080067322.1
主分类号 ：
G01N21/892
IPC分类号 ：
G01N21/892 G01B11/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/89
在移动的材料中，例如，纸张、织物中
G01N21/892
特征在于待测的瑕疵、缺陷或物品的特点
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/892
申请日 : 20200311
申请日 : 20200311
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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