工件的表面缺陷检测装置及检测方法、工件的表面检查系统以及...
实质审查的生效
摘要
使用多个图像计算多个图像中的统计性的偏差值来制作合成图像，根据所制作的合成图像来进行缺陷检测，其中所述多个图像是通过在利用在作为表面缺陷的检测对象的工件(1)的同一位置引起周期性的亮度变化的照明装置(6)对工件进行照明的状态下摄像单元(8)连续地对工件进行摄像而得到的，并且所述多个图像是在周期性的亮度变化的1个周期中得到的。
基本信息
专利标题 ：
工件的表面缺陷检测装置及检测方法、工件的表面检查系统以及程序
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114450580A
申请号 ：
CN202080067925.1
公开（公告）日 ：
2022-05-06
申请日 ：
2020-09-04
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
植木章太矢桥晓长井庆郎吉田龙一
申请人 ：
柯尼卡美能达株式会社
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
中国贸促会专利商标事务所有限公司
代理人 ：
程晨
优先权 ：
CN202080067925.1
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01B11/25 G01B11/30 G06T5/50 G06T7/00 G06T7/11
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-05-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/88
申请日 : 20200904
申请日 : 20200904
2022-05-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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